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簡(jiǎn)要描述:是德LCR測(cè)試儀E4982A ,1 MHz ~ 300 M/500M/1G/3 GHz描述E4982A LCR 表可為 SMD 電感器、EMI 濾波器等無(wú)源元器件的制造測(cè)試提供更佳的性能,其中需要在高頻率上進(jìn)行阻抗測(cè)試(1 MHz ~ 3 GHz)。除了制造測(cè)試之外,E4982A 還可用于研發(fā)領(lǐng)域,借助強(qiáng)大的功能(例如列表測(cè)量)提供質(zhì)量保證。
是德LCR測(cè)試儀E4982A ,1 MHz ~ 300 M/500M/1G/3 GHz
描述
E4982A LCR 表可為 SMD 電感器、EMI 濾波器等無(wú)源元器件的制造測(cè)試提供更佳的性能,其中需要在高頻率上進(jìn)行阻抗測(cè)試(1 MHz ~ 3 GHz)。除了制造測(cè)試之外,E4982A 還可用于研發(fā)領(lǐng)域,借助強(qiáng)大的功能(例如列表測(cè)量)提供質(zhì)量保證。
頻率
測(cè)量時(shí)間
基本的精度和阻抗范圍
更多特性
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