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用非接觸法測試材料的介電常數(shù)

更新時間:2023-02-06瀏覽:1114次

現(xiàn)在市場上測試的一些材料表面無法加工甚至不可能加工至非常光滑,兩面也無法做到平行度非常好,這樣用接觸法測試這種材料的介電常數(shù)由于有空氣間隙的將會存在非常大的誤差,如果要求測試這種材料頻率從20Hz~40MHz幾乎不可能,測試樣品舉例如下面幾幅圖片。


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用非接觸法測試上述這些材料的介電常數(shù),不進對材料的表面的粗糙度還有兩個面的平行度的要求不是特別高,測試的準確度高。


理論上的可行性:


用非接觸法測試材料的介電常數(shù)

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其中:

Cg:沒有被測物體,兩個電極板之間的電容

Cm:有被測物體,兩個電極板之間的電容

Dg:沒有被測物體,兩個電極板形成電容的損耗

Dm:有被測物,兩個電極板行程電容的損耗

tg:電極板之間的空氣間隙厚度

tm:材料的厚度


測試夾具:


WK 1J1020 測試夾具配合穩(wěn)科 6500B系列精密阻抗分析儀或者在穩(wěn)科 6500P 高頻 LCR 表上使用,最高頻率可達 40MHz。夾具設計用于夾持平面圓盤狀材料,材料的直徑不小于 38mm,厚度不大于 15mm。1020 夾具的兩端電極之間的間距是可調(diào)整的,并通過千分尺測量,夾具圖片如下圖。


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配合1J1020的測試軟件:


在WK 6500B(P)有軟件選配項/K是專門用于測試材料介電常數(shù)和磁導率的軟件,可以通過此軟件進行設定相關參數(shù),在儀表上可以直接讀出材料的介電常數(shù)或者繪制材料的介電常數(shù)曲線,軟件的界面如下圖。


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